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半导体器件测试系统
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QuickTest牌半导体器件直流测试系统
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半导体分立器件动态参数测试系统
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ITC牌半导体器件电感负载测试系统
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半导体功率器件动态参数测试系统用零件(扩展装置)
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1/f噪声测试系统;Cascade;用于测试SOI器件的1/f噪声;半导体晶圆等电子器件噪声参数测试;噪声参数测试
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功率器件测试系统/3620-TT
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CREDENCE线性模拟器件测试系统
9031900090
光波元器件测试系统用零件(磁场感应模块)
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纳米生物材料和器件测试系统附件:显微镜;观察细胞
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可变电容器;系统测试;GE;欧姆定律;测试功能;元器件参数分析仪
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标准电容器;系统测试;AGILENT;欧姆定律;测试功能;元器件参数分析仪
8534001000
印刷电路板(品牌JEC,22层,无电子元器件,集成电路自动测试系统用零件)
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测试接口板(品牌ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用零件,连接测试机和被测元器件)
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可编程电源板(品牌:ADVANTEST,通过编程为测试器件提供直流电源,集成电路自动测试系统用)
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(旧)连续信号发生器(品牌:AGILENT,此仪器是移动通信和射频网络的元器件测试系统的信号源)
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电源控制板(品牌:ADVANTEST,集成电路自动测试系统用数控装置,装有电路接口,继电器等元器件,用于控制电源分配)
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信号接口板(品牌JEC,集成电路自动测试系统专用零件,安装在机台内部,用于测试机和被测元器件之间的信号连接)
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低温强磁场电学测试系统;Teslatron(强磁场)系统;Oxford;用于各类超导电子器件与超导薄膜性能测试;提供低温与强磁场电学测量系统
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半导体参数测试系统零件(主板)
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半导体参数测试系统零件(探针)
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半导体参数测试系统零件(电路板)
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半导体参数测试仪系统零件(主板)
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半导体参数测试系统零件(测试板)
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半导体测试系统4通导信号通道电路板
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半导体参数测试系统零件(电信测试板)
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半导体参数测试系统零件(测试电路板)
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半导体参数测试系统零件(连接电路模组)
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半导体参数测试系统零件(探针测试模组)
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绝对荧光量子产率测试系统（半导体用）
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半导体性能自动测试系统（带记录装置）
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半导体参数测试系统零件(高功率源测单元)
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半导体参数测试系统零件(晶圆托盘测试板)
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半导体太阳能电池用加速紫外老化测试系统
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半导体参数测试系统零件(电源供应测试模组)
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半导体参数测试系统零件(探针测试电路模组)
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全自动覆盖测量系统/有测试结果/半导体制造用
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半导体参数测试系统零件(载台探针连接电路模组)
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半导体参数测试系统零件(高解析度探针电路模组)
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半导体参数测试系统零件(中功率电源供应测试模组)
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半导体参数测试系统零件(低电流信号切换电路模组)
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ETS88型半导体测试机测试头通信控制电路板(电路板),测试系统控制和数据处理(适用于ETS88测试机),EAGLE
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晶圆检测系统/半导体器件生产用
8479820090
化学品混合系统/半导体器件生产用
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半导体器件高精度电学参数测量系统;
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半导体激光多单元器件准直耦合系统/AL2000 AA
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气
8486204100
等离子体干法蚀刻系统/半导体器件生产用/TEL牌
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气相
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气相沉淀
9027900000
探针(制造半导体器件设备中PH值检测系统专用零件.已制
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气相沉淀机
8486201000
卧式氧化扩散炉管系统;SVCS;高温氧化制造半导体器件进行科研;高温环境下,将元素扩散入器件
8486302200
多靶磁控溅射镀膜系统;将靶材上的材料均匀沉积到器件上;利用等离子体溅射原理,用于半导体器件;丹顿
