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自动夹取设备
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自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
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IMEI自动比对设备配件(夹具)
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整机外观自动检测设备配件(夹具)
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自动化焊接设备专用零件(夹具)
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光罩夹取板/半导体制造设备专用
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LP850 Rail/HSG自动组装设备
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LP850 Rail/HSG自动组装设备
8486403900
JR PECVD自动化上下料设备
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GT120A半自动数控送料设备
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GT120B全自动数控送料设备
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HDT800半自动双盘收线设备
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自动外观检测设备/AVI(旧)