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面铜测厚仪
9031410000
膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面膜厚
9031410000
膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚
9031410000
自动薄膜应力测量仪(旧)/测试晶圆表面薄厚应力
9031809090
高压功率器件表面轮廓仪(测量台阶高度、薄膜厚度等)
9030900090
探头(品牌SEMILAB,表面光电压原理检测硅片的厚度,电阻率测试仪用)
9031499000
三维形貌与测厚仪;观测样品表面纳米尺度的三维形貌;Bruker;对样品表面物理化学特性进行研究
9031809090
膜厚测试仪(SQC310主机)