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芯片光电测试
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测试探针(激光器芯片光电性能测试台部件)
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CIMPS-2型光电化学测试系统
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CIMPS-IPCE型光电化学测试系统
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光源光电色测试系统部件-光谱仪
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光源光电色测试系统部件-光谱仪
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光源光电色测试系统部件-功率计
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光电传感器/其他光学测试装置用
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自动X光测试仪零件(光电感应组件)
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光电传感器/测试仪用/感测信号通断
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光电传感器/测试臂用/感测信号通断
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单分子光电性质测试系统-扫描隧道显微镜
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光电传感器,扩散炉用,OMRON,无测试结果显示
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手机相机镜头性能检查测试仪用光电感应器
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平板显示器平板寿命测试系统(光电二极管式)
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光电传感器(ASML.用于感应非可见光线.无测试结
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光源光电色综合测试系统部件(高精度CCD光谱仪)
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光源光电色综合测试系统部件(高精度CCD光谱仪)
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光强度测试仪(通过光电转换检测光强度.无测试
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光源光电色综合测试系统部件(SPR3000快速扫描仪)
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光源光电色综合测试系统部件(SPR3000快速扫描仪)
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光电传感器,硅片清洗机用,SCREEN,无测试结果显示
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光电传感器(品牌KEYENCE,多功能测试机用,利用光学
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光电信号切换板(集成电路自动测试系统专用零件)
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光强度测试仪(通过光电转换检测光强度.无测试结
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光电传感器(品牌KEYENCE,多功能测试机用,利用光学原
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光电转换功率检测系统用零件(测试平台TEST PLATFORM)
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亚飞安源表;用于光电流测试实验;测量光学器件电流;
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光电传感器(品牌KEYENCE,多功能测试机用,利用光学原理
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光电探测器(品牌SEMILAB,用于探测光电强度,硅晶片测试
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光电传感器(ASML.用于感应非可见光线.无测试结果显示.
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光电传感器(EPOXY,根据光电原理感应部件位置用,无测试
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光电转换器(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台
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光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内
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探头(品牌SEMILAB,表面光电压原理检测硅片的厚度,电阻率测试仪用)
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探头(品牌SEMILAB,表面光电压原理检测硅片的P/N型号,电阻率测试仪用)
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探头(品牌SEMILAB,表面光电压原理检测硅片的方块电阻值,电阻率测试仪用)
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探头(品牌SEMILAB,通过微波光电导原理检测硅片载流子寿命变化,电阻率测试仪用)
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分光辐射亮度计;光电器件发光性能测试;测量光的亮度,色度,辐射度值等;柯尼卡美能达
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光电传感器(光学检测原理;用于检测直接引起或能转换成光量变化的非电量;无测试结果显示;无指标显示)
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玻璃制感应件(NIKON,安装在光电传感器内部,根据光电原理使光强能够均匀辐照用,无测试结果显示,光电传感器用零件)
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读数头(与光栅配对,形成莫尔条纹,经光电转换构成计数信号,无测试显示结果,用于三坐标测量仪用零件,品牌:Carl Zeiss)
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光电传感器(品牌:SALVAGNINI,用途:检测物体信息用,功能:将检测到的光信号转换为电信号输出至数控系统,无测试结果显示)
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光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部上,通过光电转换原理将电子信号收集后放大转换成图像信息,品牌:应用材料定制,型号:0241-58455,非简易二极管或者光电耦合器)
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V93000芯片测试系统及附件
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芯片测试编带机TEST HANDLER
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ETS364集成电路芯片测试系统
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芯片共面测试系统/New View8300
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图像感应集成芯片(AT已测试)
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图像感应集成芯片(AT未测试)
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IC分类机用芯片电流测试器-A6
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预研项目(IOE)测试芯片用主板
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24V芯片测试编带机用直流电机
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DFB激光器芯片自动化测试系统
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EASTEKN牌芯片测试仪专用探针卡
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半导体芯片老化测试板(旧,2006)
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芯片测试仪用零件(短路测试盒)
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测试板(芯片测试平台专用配件)
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测试板(芯片测试系统专用配件)
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芯片测试平台专用配件(适配卡)
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芯片测试板(含开发板及转接卡)
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固定夹/钢铁制/芯片测试治具用
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IC分类机芯片电流测试器底座-A1
8479899990
虚拟现实VR芯片晶圆测试探针台
8473309000
预研项目(SOC)测试芯片用主板和
9031900090
接口板(芯片测试平台专用配件)
9030900090
测试芯片座/集成电路测试机零件
9030820000
FPGA芯片测试板(不带记录装置.旧)
9031809060
闪存芯片测试仪MAGNUM V SSV FT SYSTEM
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芯片测试编带机用切边冲头-宽边
8207300090
芯片测试编带机用切边冲头-窄边
9031809090
CMOS图像传感器芯片测试光学系统