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表面电阻测量设备
9030332000
电阻表(品牌TEL,用于测量电气设备的绝缘电阻,不带记录
9015800090
全站仪测量设备/精度0.6mm
9031499090
ARGUS 网格应变测量系统设备
9015900090
地球物理测量设备VTEM发射机
9031900090
旋转台(光学测量设备专用零件)
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-接头
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-支架
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-框架
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-盖子
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-铝槽
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-夹钳
7616991090
测量仪器设备配件-滑动轴承块右
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-套管
8483900090
光学测量仪器测量设备配件-接头
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-盖子
8504500000
电感器/测量用电生产设备的电流
9031900090
汽车检测维修设备零件(3D测量臂)
9030899090
设备备件-离子发生器电量测量器
9027100090
微碳烟测量设备 Micro Soot Sensor 483
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-凸轮
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-夹具
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-套管
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-底座
9030900090
设备备件-X射线测量仪专用隔离膜
8443992990
其他数字印刷设备零件(测量单元)
9031900090
标准(光学讯号测量校正设备零件)
9031499090
非接触式高精度测量设备/COMET 6 16M
9031410000
薄膜厚度测量设备(旧)/检测晶圆用
8543709990
超声诊断设备水听器声强测量系统
8421399090
设备备件-过滤器[气体的测量装置]
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-支架右
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-支架左
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-固定座
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-安装板
8543709990
光学测量仪器测量设备配件-编码器
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-安装板
9030900090
设备备件-X射线测量仪专用测量模块
8431431000
测量接管总成（石油钻采设备配件）
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-软管接头
9031802000
三坐标测量机(合同号PO1505035A.新设备)
9027100090
设备备件-气体的测量装置(气体侦测器)
9017800000
其他手用测量长度的器具（校准设备）
9026809000
设备备件-气体侦测器[气体的测量装置]
9031809090
量规/E18288190/测量校准设备间隙/APPLIED牌
9030900090
设备备件-X射线测量仪专用高压信号模块
8526919090
高精度测量系统（其他无线电导航设备）
9030900090
电学特性测量设备零件-8插槽精密测量主机
9030100000
可移动式气溶胶和碘取样器测量设备探测器
9015100000
间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.
9015900090
测量地下含油含气量设备零件(球和球座总成)
9025191010
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌
9025191090
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌
9031809090
后挡总成玻璃用检具(测量后挡玻璃尺寸的设备)
9031900090
发动机平衡轴齿隙测量设备零件/曲轴夹爪组件等
9026809000
离子规(测量设备真空度,无计量装置,品牌:THERMO等)
8515900090
串口测量板(品牌ABB,多功能工业机器人弧焊设备专
9024800000
高密度等离子体源设备（原位摩擦性能测量部分）
9031900090
微型定位平台(旧)/晶圆薄膜厚度测量设备专用零件
9031492000
线性位移测量(用于制造半导体器件设备上.品牌APPLIED
8421399090
设备备件-过滤器[气体的测量或检验装置及其零配件]
9030339000
电压测量仪(用于半导体设备,不带记录装置,品牌APPLIED
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌RENISH
9025191010
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌FLUKE.通过
9025191090
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌FLUKE.通过
9031809090
单通道应变遥测系统;柴油机旋转部件应变的测量;KMT;电磁感应;测试被测设备的应变
8504402000
(旧)三通道直流电源(品牌:AGILENT,用于设备供电电源,输出波纹和噪声较低,内置测量和基本编程功能)
9031499090
激光对中仪;测量传动设备的安装同轴度;通过测量旋转部件的位移变化量,计算出设备的旋转中心线;Fixturlaser
9031499090
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置)
9030339000
电压测量仪(用于半导体设备,不带记录装置,品牌LEVANON,测量电压的大小,无测试结果显示,检测对象是半导体设备电路电压)
9031499090
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置)
9031499090
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
9031809090
高度测量计(用于制造半导体器件设备上,品牌AMAT,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台水平高度,有测试结果显示,显示高度值)
9031809090
卫星导航产品敏感度试验系统,测量卫星导航设备的电磁兼容传导敏感度,SOLAR,生成脉冲干扰通过探头注入被测设备,模拟电磁经干扰测试被测设备
9031809090
间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量腔室内部的间隙的距离,品牌APPLIED MATERIALS,通过金属探头感应来测量,检测对象是间隙距离距离,无测试结果显示)
9031809090
水平检测仪(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示)
9031499090
光栅尺(运用在精密测量设备上,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
9031809090
汽车电磁兼容辐射抗扰度测试设备(成套散件);罗德与施瓦茨;汽车电磁兼容实验用;信号发生器生成各种波型,由功率放大器放大通过发射天线,发射电磁波;测量汽车电子对外界电磁场的可承受度
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
8533290000
电阻器/蚀刻设备配件(刻蚀机)
8515900090
焊接设备配件(电阻焊机电极头)
8516800000
电阻加热器/蚀刻设备配件(刻蚀机)
8516800000
电阻加热器(用于实验室设备Ion Chef)
8516800000
加热电阻器/工艺废气处理设备配件
8516800000
加热电阻器(化学气相沉积设备配件)
8515219900
继电器焊接设备.ATS.电阻焊接.全自动
8516800000
加热电阻器/化学气相沉积设备(仪)配件
8486909900
加热电阻器组件/蚀刻设备配件(刻蚀机)
8516800000
加热电阻带(用于制造半导体器件的设备.品
8516800000
加热电阻带(用于制造半导体器件的设备.品牌
8516800000
加热电阻带(用于制造半导体器件的设备.起加
8533400000
电阻器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀
8516800000
加热电阻器(用于制造半导体器件的设备,品牌APPLIE
8516800000
加热电阻丝(用于制造半导体器件的设备,品牌APPLIED M
8477900000
橡胶设备配件(螺杆，加热管，电位，电容，电阻等)
8516800000
加热电阻盘(用于制造半导体器件的设备.品牌APPLIED MA
8516800000
加热电阻器(用于制造半导体器件的设备.品牌AMAT.没有
8516800000
加热电阻套(专用于制造半导体器件设备上.品牌AMAT.由
8533290000
负载电阻(用于制造半导体器件设备上.品牌AMAT.额定功
8516800000
电阻加热丝(用于制造半导体器件的设备.品牌AMAT.结构:
8516800000
加热电阻带(用于制造半导体器件的设备.品牌:AMAT.没有
8516800000
加热电阻带(用于制造半导体器件的设备.起加热作用.品
8516800000
加热板(用于制造平板显示设备上.起电阻加热作用.品牌W
8516800000
电阻加热丝(用于制造半导体器件的设备.加热电阻丝缠绕
8533400000
电阻器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机上,可变
8516800000
加热带(用于制造半导体器件的设备.利用电阻发热原理起
8516800000
加热管(用于制造半导体器件的设备.利用电阻发热原理起
8533400000
电阻器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机上,可变式,品牌BIRD ELECTRONIC)
8516800000
加热器(用于制造半导体器件的设备,品牌AKT,没有和其它零件一起组装,电阻加热)
8516800000
加热片(用于制造半导体器件的设备,品牌AKT,没有和其它零件一起组装,电阻加热)
8516800000
加热带(用于制造半导体器件的设备,电阻加热,品牌BENCHMARK,没有和其它零件一起组装)
8516800000
加热带(用于制造半导体器件的设备,电阻加热原理,品牌AMAT,没有和其它零件一起组装)
8516800000
加热条(用于制造半导体器件的设备,品牌AMAT,没有和其它零件一起组装,原理是电阻加热)
8516800000
加热带(用于制造半导体器件的设备,功能是电阻加热,品牌AMAT,没有和其它零件一起组装)
8516800000
加热带(用于制造半导体器件的设备,起电阻加热作用,品牌AMAT,没有和其它零件一起组装)
8516800000
加热电阻器(用于制造半导体器件的设备,品牌AMAT,没有和其它零件一起组装,起加热作用)
8516800000
加热电阻带(用于制造半导体器件的设备,品牌:AMAT,没有和其它零件一起组装,起加热作用)
8516800000
加热带(用于制造半导体器件的设备,功能电阻加热,品牌BRISKHEAT,没有和其它零件一起组装)
8516800000
加热带(用于制造半导体器件的设备,起加热作用,电阻加热,品牌AMAT,没有和其它零件一起组装)
8516800000
加热电阻器组件(用于制造半导体器件的设备,品牌APPLIED MATERIALS,和其它零件一起组装,起加热作用)
8516800000
加热电阻盘(用于制造半导体器件的设备,品牌APPLIED MATERIALS,没有和其它零件一起组装,起加热作用)
8486909900
电阻加热器(由加热电阻器和其它零件组装在一起,专用于制造半导体器件的设备上,用于加热硅片,品牌APPLIED MATERIALS,通过电阻丝加热)
8486909900
电阻加热器组件(由加热电阻器和其它零件组装在一起,专用于制造半导体器件的设备上,用于加热硅片,品牌APPLIED MATERIALS,通过电阻丝加热)
8486909900
加热器组件(由加热电阻器,绝缘线圈架,电气接头和其它零件组装在一起,专用于制造半导体器件的设备上,用于加热硅片,品牌APPLIED MATERIALS,通过电阻丝加热)
8548000030
触摸感应数据输入装置（即触摸屏）无显示的性能，安装于有显示屏的设备中，通过检测显示区域内触摸动作的发生及位置进行工作。触摸感应可通过电阻、静电电容、声学脉冲识别、红外光或其他触摸感应技术来获得
9031499090
(旧)磁盘表面检查设备/九成新
8479909090
表面处理设备部件(压辊)/修理费
8479909090
表面处理设备部件(绞辊)/修理费
8460909000
扁钢表面清理设备 FIN BLAST MACHINE
8479909090
等离子表面处理设备配件:产生器
8422200000
涂装/精密电工/表面清洗纯水设备
8479909090
表面处理设备部件(液中辊)/修理费
8479899990
处理金属表面的涂覆设备及其附件
8479909090
铜箔表面处理设备部件(通电锟接头)
8479909090
等离子表面处理设备配件:水温控制器
9031410000
光硅片表面检测设备(旧)/硅片表面检测用
8486304900
太阳电池甩干设备;用于硅片加工过程中,对经过湿法工艺后的硅片进行甩干处理;快速去除硅片表面液体,使硅片干燥;OEM
8486909900
导热片(专用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机内部上,表面包含特定位置孔径用于固定,铜制,品牌AKT,起导热的作用)
9031410000
自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.
