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运动器械上测量
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
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创伤外科手术器械(DFN测量尺)
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创伤外科手术器械(UTN测量杆)
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创伤外科手术器械(UHN的测量尺)
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创伤外科手术器械(导丝测量装置)
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创伤外科手术器械(导丝测量装置)
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创伤外科手术器械(空心测量装置)
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创伤外科手术器械(DHS/直接测量装置)
9018909999
创伤外科手术器械(UFN/CFN的测量装置)
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创伤外科手术器械(TomoFix截骨沟槽测量装置)
9018909999
创伤外科手术器械(TomoFix截骨沟槽测量装置)
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矫形外科(骨科)手术器械(Matrix预成形板测量尺)
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医疗器械半成品(打击帽、安装杆、测量器、开骨凿)
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运动体能测量器/NA0017-100
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运动体能测量器(腕带)/WM0072-100
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光学三维运动测量系统用主机转接器
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光学三维运动测量系统用被动刚体夹具
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后保运动款圆形下部件测量支架(带小车)
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后保运动款大孔下部件测量支架(带小车)
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运动款右侧前轮眉内衬测量支架(带小车)
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运动款右侧后轮眉内衬测量支架(带小车)
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运动款左侧前轮眉内衬测量支架(带小车)
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运动款左侧后轮眉内衬测量支架(带小车)
9031809090
位置测量仪(用来测量部件运动到的位置.通过电
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速度计(计算机成像系统用零件用,测量机器运动速度,无
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三分量力测试系统(测量样品运动时所受的瞬时压力)
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激光测振仪;测量运动部件的振动;迈克尔干涉原理;精密测量;SIOS
9031809090
旋转测量系统;Med Associate;编码器得到顺,逆方向的运动数据;测量旋转行为
9031809090
高速运动分析仪;NUB 3D;用于高速运动目标的数据采集和分析;进行高精度零件的检测和测量
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眼震电图仪;用于测量,记录和显示眼球不自主运动(眼球震颤);平衡系统异常会引起眼动异常;GN Otometrics
9031809090
单向加速度传感器;利用弹簧质量系统原理,测量物体的机械运动;PCB;测定结构或部件的动态特性的改进结构设计,提高抗振能力
9031809090
三向加速度传感器;利用弹簧质量系统原理,测量物体的机械运动;PCB;测定结构或部件的动态特性的改进结构设计,提高抗振能力
9031809090
压电陶瓷加速度传感器;利用弹簧质量系统原理,测量物体的机械运动;PCB;测定结构或部件的动态特性的改进结构设计,提高抗振能力
9031809090
压电陶瓷高加速度传感器;利用弹簧质量系统原理,测量物体的机械运动;PCB;测定结构或部件的动态特性的改进结构设计,提高抗振能力
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电量测量仪器零件(上盖 底盖)
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大地测量仪用零件(上盖印刷壳)
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测量尺/用于机器上测量刀具高度
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光栅尺/投影仪上反映测量信号用
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平衡机上测量转子用环线平衡装置
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上接头等/地球物理测量仪专用配件
9031900090
测量仪上用零件(主柱,滑套,调节件)
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小型一体成型机上测量油压用压力表
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利用光学测量上料位置的传感器sensopart
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举升机配件(摇臂,UBB上车身测量尺等)
9031900090
铝板热轧机上位置测量装置用位置传感器
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万用表(用在化学气相沉淀机上测量电压.电
9031900090
粗糙度测量仪零件/电路板(上有电子元器件)
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间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量
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线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.
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高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌
9025191090
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌
9017800000
标定件(利用标定件上的标识做定位测量.测量长
9031900090
非接触式光学测量仪用电路板含IC13个/二层以上
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开窗角度光学测量仪上的配套零件(夹具组合)
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手工测量片(用于制造半导体器件离子注入机台上
9031809090
深度测量仪/根据指针在水平上的上下移动距离检测
9031809090
高度调整治具/利用仪表上的触头接触待测表面测量
9031492000
线性位移测量(用于制造半导体器件设备上.品牌APPLIED
9030891000
电路板在线测试仪,AGILENT牌,用于测量电路板上的电阻
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌RENISH
9025191010
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌FLUKE.通过
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真空计(AMAT.用于制造半导体器件上.用来测量真空度.不
9025191090
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌FLUKE.通过
9030320000
钳形表(用于制造半导体器件离子注入机台上.功能:测量
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万用表(用在化学气相沉淀机上测量电压.电流和电阻用.
9025191010
高温测量仪(旧.用于制造半导体器件快速处理机台上.品
9015900090
地球物理测量仪专用配件.包括单芯插座.上堵头.单芯插
9025191090
高温测量仪(旧.用于制造半导体器件快速处理机台上.品
9031809090
测量套筒(用于制造半导体器件离子注入机台上.品牌AMAT
6909110000
量块(瓷制.用于制造半导体器件研磨机台上.起测量的作
9017800000
手工测量片(用于制造半导体器件离子注入机台上.品牌AM
9031809090
压力测量器(用于制造半导体器件研磨机台上.用于检测机
9030820000
低泄漏开关;测量半导体晶圆上必要参数;对半导体器件进行测试;AGILENT
9013200099
激光器,用于半导体薄膜厚度测量系统,将激光束通过光学系统聚集至工件上
9031900090
固定板(ASML,硅片线宽测量仪专用零件,起到将测量仪固定支撑在测量平台上的作用)
9027300090
高光谱辐亮度计;用于极区海冰反照率观测研究;Trios;测量海冰表面上下行谱辐射得到反照率
9031809090
汽车的耗油量及尾气排放试验系统用底盘测功机;测量汽车扭矩和转速;模拟汽车在道路上行驶的环境;HORIBA
9030900001
ETS模拟电路板(电路板);传输直流最大±100V的电压和2A电流信号到被测器件上并进行测量(适用于ETS测试机);EAGLE
9031809090
高度测量计(用于制造半导体器件设备上,品牌AMAT,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台水平高度,有测试结果显示,显示高度值)
9031900090
测量信号传输板(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,已制成特定形状,安装在测量平台上直接接触晶片,用于将被测晶片的测量信号传输给机台)
9031809090
间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量腔室内部的间隙的距离,品牌APPLIED MATERIALS,通过金属探头感应来测量,检测对象是间隙距离距离,无测试结果显示)
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水平检测仪(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示)
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光栅尺(运用在精密测量设备上,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
9031809090
内径检查机(品牌:NTN,用途:检测轴承中心轴的内径尺寸,原理:通过空气测量头接触中心轴的内径,间隙越大测量头进入长,锥度越长,通过信号转换装置将模拟信号转换成数字信号在显示屏上显示,并判断良品或不良品,功能:有检测功能,有测试结果显示,显示数值(长度单位:μm))