(旧)外观检查机

2A级太阳光模拟器及I-V测试系统

2K自动光学检测仪

3D光学轮廓仪

3D锡膏在线自动检测仪

5K 3D自动光学检测仪

6英寸晶圆测试载物台

AAA级太阳能电池IV曲线测试系统

ADI蓝宝石图案基板自动光学缺陷检查机

AOI自动光学检测机

AOI自动光学检测机AUTO INSPECTION MACHINE

AOI自动目检机

AOI芯片目检机

CCD影像机（光学检测模组）

CCD影像系统

CCD摄像机(光学检测模组)

CCD检查模组

DB37针连接头

DVD光学头参数测量调整仪

DVD光学头参数测量调整仪/PULSTE

DVD光学头评价机/PULSTEC

EL在线测试仪

EMMC老化测试板

FLUKE测试仪

FPC外观检测机

IV曲线测试系统

IV测试仪

KEYENCE晶体管外观检测系统

LD测试装置

LED亮度测试机(维修费)

LED全自动目检机

LED全自动高速测试机

LED全自动高速测试机/旧

LED全自动高速测速机

LED六面检查机

LED外观检查机

LED外观目检机

LED测试机

LH620晶圆检测仪

LOANA太阳电池分析工具

LW1000自动耦光系统

MAP检查机

MIS太阳模拟器

OCD光学线宽测量仪

OPV寿命测试系统

PCB测试设备

PL-EL-IV测量系统

PN测试探头

PSS测试机

PSS测试系统

SP2微粒子测量机（旧）

V310 3D 锡膏检测仪

VITROX外观检测系统VT-LP2000T

X射线荧光分析仪

三光检查系统

三极管测试机

三维管脚检测仪(旧)

三维轮廓仪

二极管透镜校准仪

产品自动测试机

亮场缺陷检测机

亮场缺陷检验机

亮度测试机

亮度测试机(维修费)

亮度计

传感器

传感器(制造半导体器件设备用.生产硅片过程

传感器(制造半导体器件设备用.生产硅片过程中

传感器(制造半导体器件设备用.生产硅片过程中.利用光

传感器(用于制造半导体器件研磨机台上.品牌AMA

传感器(用于制造半导体器件研磨机台上.品牌AMAT.通过

传感器(用于太阳能硅片检测机.在生产硅片过程

传感器(用于太阳能硅片检测机.在生产硅片过程中.利用

传感器(用于晶片加工离子注入机上.利用光学

传感器(用于晶片加工离子注入机上.利用光学原理检测内

传感器/检测晶圆用

倒角轮廓仪

光伏组件功率测试仪

光信号对薄膜铁电性能影响测试系统

光信号感测器

光半导体测试机器

光学传感器

光学关键线宽测量仪

光学厚度量测仪

光学反射式圆形尺寸量测机

光学外观检测组件/集成电路产品分选机用

光学套刻测量仪(旧)

光学扫描检测仪

光学检测仪

光学检测机

光学测试治具

光学膜厚测量仪

光学表面分析仪

光学表面形貌测量仪

光度检查机

光掩模版模拟缺陷检测仪

光掩模版缺陷检测机

光掩模颗粒探测系统

光掩膜检测平台(旧)

光掩膜版位置精度测量机

光效检测机

光栅

光栅尺

光栅尺(DATACON.测量位置.倒装贴片机用)

光电传感器

光电开关BEN5M-MDT

光电开关E2E-X10ME1-M1

光电开关用检测器具

光硅片表面检测设备(旧)

光硅片表面检测设备(旧)/硅片表面检测用

光罩型颗粒度测量仪

光罩微粒检查机

光罩扫描机设备

光罩表面缺陷检测装置

光致发光检测仪

光致发光测试仪

光致发光测试系统(紫光)

光致发光测试系统(蓝光)

光致发光硅片测试仪

光谱型椭偏仪

光谱椭偏仪/7240-042095-R

光谱量测机

全自动LED晶粒分类挑捡机

全自动三光机

全自动光学检测机

全自动器件处理系统/PS610

全自动外观检查机

全自动晶片和线检测机

全自动晶粒分类机

全自动晶粒挑拣机

全自动晶粒计数器

全自动检测机

全自动芯片处理系统/MS60

全自动芯片处理系统/MS90

全自动芯片扫描检查系统

全自动表贴LED分类系统/SLS200C

全自动覆盖测量系统

全自动覆盖测量系统/有测试结果/半导体制造用

全自动高温晶圆应力检测装置

共面性测试机

分类筛选机

制半导体器件时检验用光学仪器及器具(旧)

制造半导体器件检测设备

制造半导体器件的检测仪

制造半导体器件的检测仪和器具

制造半导体器件的检测器具

刻蚀上下料

功能测试仪

半导体LED点测机

半导体光学检测仪

半导体加工检测仪

半导体加工测试仪

半导体加工测试机

半导体器件器具

半导体器件检测仪

半导体器件检测设备

半导体器件测试机,

半导体器件的检测仪和器具

半导体器件的检测机

半导体外观检测机

半导体太阳能电池片功率测试仪

半导体套刻仪(旧)

半导体封装设备用光栅尺/半导体封装设备用

半导体晶圆厚度检测模块

半导体晶圆膜厚量测仪

半导体晶片光学检测仪(旧)

半导体晶片抗阻探针头

半导体检查装置

半导体检测仪器

半导体检测仪（旧）

半导体洁净度测试仪

半导体测试仪

半导体测试机(旧)

半导体测试机组件

半导体线宽测量仪

半导体自动对焦系统

半导体自动对焦系统维修费

半导体自动检测机CI-T100

半导体自动检测机CI-T130

半导体自动检测机CI-T300

半导体自动检测机CI-T620A

半导体自动检测机CI-T620B

半导体自动检测机CI-T640A

半导体自动检测机CI-T640B

半导体自动检测机CI-T700-TP

半导体自动检测机CI-T700-TR

半导体自动检测机KITO

半导体自动检测机PSM

半导体芯片外观检测仪

半导体芯片检测装置(八成新)

半导体芯片检验仪

半导体芯片测试系统

半导体薄膜厚度测试仪

半导体薄膜厚度测量仪

半导体薄膜厚度测量仪/检测晶圆薄膜厚度

半导体薄膜厚度测量设备

半导体间隙量测仪用校准模块

半导体颗粒测试仪(旧)

半自动晶圆针测机

半自动目视检查机(旧)

半自动裸晶测试机

单波长激光椭偏仪

厚度检测仪

厚度测定器

厚度量测仪

参数化分析仪（旧）

双视场对准显微镜

发光二极管光学检测机

发光二极管光学检测机（修理费）

发光二极管光学检测机（旧）

发光二极管测试机

发光二极管测试机(多晶测试模式)

取像模组

叠层对准检测装置

叠片盒上下料自动化设备

可焊性测试机

可靠性测试仪

台式光学检测仪

台阶仪

噪音测试仪

固定模组

固晶线焊光学检测机SkyHawk-DD

固晶线焊光学检测机SkyHawk-DE

图像传感器光学检测机ISVIM300-P

图像传感器光学检测机TwinSpecto

图像采集器(旧)/晶圆缺陷检测仪用/KLA-TENCOR牌

图像采集器（旧）

在线光学检查仪

在线电阻率、厚度测试模组

在线色差分选检测设备

基板表面粗糙度检测仪(旧)

声学成像薄膜缺陷分析仪(旧)

外观检查机

外观检查机(旧)

外观检查机/用于检查线路板成品

外观检查机修理费

外观检查机（旧） VISUAL INSPECTION MACHINE

外观检查装置

外观检查设备

外观目检机

多功能晶片检测系统

多功能晶片检测系统(旧)

多晶硅电池片分色检验仪

大行程高精度表面轮廓仪

太阳光模拟器

太阳光模拟器Simulator

太阳能光源模拟及测试系统

太阳能晶硅组件功率测试仪

太阳能模拟器

太阳能模拟测试仪

太阳能电池QE/IPCE测试系统

太阳能电池分选机

太阳能电池效能测试仪/旧

太阳能电池测试系统

太阳能电池片效率测试仪

太阳能电池片测试仪

太阳能电池片表面瑕疵检测仪(旧)

太阳能电池电致发光测试系统

太阳能电池量子效率测试仪

太阳能电池量子效率测试系统

太阳能电池颜色分类系统

太阳能瞬态模拟器

太阳能组件测试仪

太阳能组件测试仪BXM-2012SA

套刻仪

套刻测试仪

套刻测试仪（旧）

套刻精度检测仪

套刻精度测试机

射线式晶圆检测装置/Brooks牌

少子寿命测试仪(旧)

平整度测试仪

微颗粒光学检测仪

投影量测仪

探针台/无品牌

探针测试仪(旧)

接触式表面平整度检测装置

斜角/凸面晶片3-D形状分析系统

无图形晶圆颗粒缺陷检测机PARTICLE COUNTER

旧BUMP测试仪/七成新

旧半导体器件用测试机

旧半导体器件用测试机修理费

旧微粒测试仪/六成新

旧校平测试仪/七成新

旧检测机（及零配件）

旧硅片厚膜测试仪/七成新

旧硅片浓度测试仪/七成新

旧硅片膜厚测试仪/七成新

旧离子测试仪/七成新

旧芯片微粒测试仪/七成新

旧芯片翘曲度测试仪/七成新

晶圆厚度综合测试仪

晶圆定位器/Applied materials牌

晶圆截面检测装置

晶圆方向检测器(旧.制造半导体器件设备用.生产硅片过

晶圆校准装置

晶圆检测仪(含附件)

晶圆检测器(光刻机用.利用光学原理扫描晶圆表

晶圆检测器(光刻机用.是在半导体器件制造过程

晶圆检测器/ASML牌/无型号/SERV.502.30027

晶圆检测器/ASML牌/无型号/SERV.664.92261

晶圆离子注入监视检测装置

晶圆缺陷检测仪/半导体生产用

晶圆缺陷检测装置

晶圆表面图形区对中检测装置

晶圆表面缺陷检测装置

晶圆表面膜厚和离子浓度检测装置

晶圆表面膜厚检测装置

晶圆表面膜层检测装置

晶圆表面金属污染检测仪

晶圆表面金属膜厚度检测装置

晶格图像检测机

晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO

极间距测量装置

校准仪(旧.专用于制造半导体器件设备缺陷检

校准仪(旧.专用于制造半导体器件设备缺陷检查设备，品

检测仪/半导体制造设备用/光学原理

检测器框架

检测芯片光功率用检测仪

模组电致发光检查设备

泵浦激光器老化测试装置用卡条

测试仪

测试分选机(修理费)

测试机(修理费)

测试机(旧),用于测试集成电路,AGILENT牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:E6978B,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标

测试机(旧),用于测试集成电路,CREDENCE牌,采用微电子原理,测试集成电路好坏,集成电路,型号:QUARTET ONE,技术参数:220V等,有测试结果显示,显示集成电路好坏指标

激光器芯片窄脉冲测试仪

激光器芯片老化测试装置(八成新)

激光器芯片老化测试装置用测试箱

激光型椭偏仪

电子产品用检查设备

电子束缺陷检测仪 E_beam for hot spot inspection

电路板半导体器件光学检测仪

硅晶片检测仪

硅片光学检测机SolarWIS-160-DB

硅片光学检测机SolarWIS-160-DC

硅片光学检测机SolarWIS-190-DA

硅片光学检测机SolarWIS-3D-170-

硅片几何参数测试仪

硅片厚度测试仪

硅片感应器(用于制造半导体器件离子注入机台上.品牌AM

硅片表面缺陷光学检查仪(旧)

硅片表面缺陷检查仪(旧)

离线EL测试仪

移动终端智能卡接口单线协议测试仪

稳定度测试仪(旧)

红外回流扫描仪,品牌SONIX,检查集成电器元器件内部是否有分层,功能:非破坏性检验

终点检测系统

终点检测系统/型号:SP2100

终端机卡接口测试仪

编码器光栅

缺陷扫描检测机(旧.原值总价USD850000/台)

缺陷测试设备

老化测试仪

膜厚测试仪

膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚

膜厚测试仪（旧）/测量晶圆表面膜厚

膜厚测量仪 IMPLUS+

膜厚测量仪NOVA SCAN 3090 NEXT 300

自动光学晶圆检验机;Camtek;IT行业,测量晶圆的划伤、裂痕等表面状态

自动外观检查装置

自动晶圆测试机/Prober

自动目视检查机(旧，修理费)

自动芯片检验机,HITACH 3D INSPECTION,品牌:HITACH,原理:利用机器内置数字摄像机,拍摄得出WAFER表面图片,用机内电脑与系统预设之标准图片自行分析比对,判断WAFER上是否有外形缺陷.同时设备内置光栅尺,利用传感器读取光栅尺位置信息,从而得出锡银球所需量测尺寸.

自动薄膜应力测量仪(旧)/测试晶圆表面薄厚应力

芯片共面测试系统/New View8300

芯片分类机ES101-10-A1

芯片分类机ES201-10-A1

芯片分类机LPT08-10-A1

芯片分类机MS100Plus II-10-A2

芯片分类机MS100Plus II-A1

芯片分类机MS100Plus-1-A1

芯片分类机MS100Plus-10-D2

芯片分类机MS100Plus-2-A1

芯片分类机MS100Plus-20-B2

芯片分类机MS100Plus-3-A1

芯片分类机MS109-10-A1

芯片分类机MS109-10-B1

芯片分类机MS109-10-D4

芯片分类机MS60-11-DK

芯片分类机MS60-161710-DA

芯片分类机MS60-161712-DA

芯片分类机MS60-161713-DA

芯片分类机MS90-160751-DA

芯片检测机

荧光显示屏栅网

荧光显示屏阵列

蒸汽老化机

薄膜厚度测试系统

表面缺陷检测设备

衬底和外延(epi)晶圆片表面缺陷检测系统

视觉测试仪

设备备件-传感器

设备备件-半导体晶圆厚度检测模块

超声波断层扫描仪

轮廓仪;测试物体表面的轮廓;测试表面颗粒高度及颗粒之间的间距;SENSOFAR-TECH,S.L.

量子效率测试仪(旧)

金线拉力测试仪

长波晶体表面损耗测试仪/Nicolet IN10MX

间隙量测设备

阳光模拟器（太阳能组件IV测试）

集成电路注入剂量检测设备(旧)/监控注入机台稳定性

静电卡盘

颗粒度测试仪

颗粒检测仪(ASML.利用光学原理扫描晶圆的上下

颗粒检测仪(ASML.利用光学原理扫描晶圆的上下表面.从

颗粒测试仪(旧)/检测硅片表面颗粒情况

高低温温度控制测试机

（旧）晶片三维表面光学检测仪（五成新）