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宽频段光电探测系统(品牌:Labsphere)
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激光共振扫描测量仪;Thorlabs;扫描获取被测物体表面坐标和反射光强度;发射激光来扫描获取被测物体表面坐标和反射光强度
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LS-100自动分料入料及MTF检测机
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红外热成像仪CX320-75M
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光电传感器,130K93230
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光电传感器,130K73231
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光电传感器,130E89320
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光电传感器,130K75432
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红外线检测仪(安检设备)SF325
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微振动试验系统/型号:SEREME 3322
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VK-X100型形状测量激光显微系统
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1187-143224-11)
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CI-110型植物冠层数字图像分析仪
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导向盒体11020530020005
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光学相干层析检测仪(成套散件)
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ATOS光学测量系统(成套散件)
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光电传感器,107E08680
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感应器/光纤塑料 金属/光电感应
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感应器/光纤 塑料 金属/红外线感应
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感应器/光纤 塑料 金属/光电感应
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感应器/光纤 塑料 金属/光学感应
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感应器/光纤 塑料 金属/光学原理感应
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感应器/光纤 塑料 金属/光学原理
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研磨机用感应器/塑料 光纤 电子元件
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感应器/光电感应/光纤 塑料 金属
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感应器/光学原理感应/光纤 塑料 金属
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光电传感器,110K91850
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光电传感器,110K15040
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光电传感器,110K12100
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光电传感器,110K10651
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光电传感器,110K10460
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光电传感器,110E97990
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光电传感器,110E93440
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光电传感器,110E11980
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光电传感器,110E10500
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自动组装流水线用感应器/光电感应/光纤 塑料 金属
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自动组装流水线用感应器/光学原理感应/光纤 塑料 金属
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玻璃纹理检测仪Inspection appliance
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光电传感器(半导体生产设备用零件,2980-106939-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1380-101777-12)
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激光硬度仪HARdness module
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光栅尺(运用在精密测量设备上,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
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中远距离地面激光扫描仪/型号:Riegl VZ-1000
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接收器(APPLIED MATERIALS牌)/0010-26659
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热喷涂在线监测系统/型号:G3
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信号感应器(IFM,感应信号的变化,通过光束感应零
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光电传感器,130K75940
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SONET/SDH/PDH/ATM分析仪
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光电传感器,扩散炉用,TAKENAKA,无测试结果显示
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三维扫描测量系统/型号:Artee EVA
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照度计(品牌USHIO,用于检测晶片表面的光亮度,通过测光探头吸光后把光能转换成电能在界面上产生光电效应,从而测的数据)
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扫描式激光振动测量仪,型号:PSV-500
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便携式三维LDA激光多普勒测速仪/型号:Dantec
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光电传感器,130K71440
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专用传感器(多功能数码复印机DC1010S的零件)
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光笔测量仪/型号:Metronor DUO
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光电传感器,130E81600
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激光测振仪;用于新型号卫星设计过程中的结构动力学试验;POLYTEC;实现对振动信号的非接触式测量
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光电传感器(品牌KEYENCE,多功能测试机用,利用光学原
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光电传感器,130K64321
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激光粒度仪/型号:mastersizer2000
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传感器(品牌ROCHE,通过光电转化原理传递试剂余量的信
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专用传感器(数码印刷机650CF的零件)
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激光测径仪专用零件(测量探头)
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传感器(照像排版用零件,品牌:CREO)
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传感器(数码印刷机零件IGEN3的零件)
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传感器(数码印刷机零件DT120CP的零件)
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平衡探测器,自由空间回波探测,Newport,信号探测
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传感器(数码印刷机用零件,品牌:KODAK)
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光学形变测量仪;考察汽车零件的非线性变形,疲劳试验等;测量零件负载后表面全场的三维变形和应变分布;ARAMIS
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传感器组件(多功能数码机零件)
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专用传感器(多功能数码机零件)
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装订位置传感器(数码印刷机零件)
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旧UV照度计(万能紫外光机零件)/7成新
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光电传感器(放射扫描系统用零件,光电检测检测片盒,品
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检测器(用于光电检测,仪器用零件)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,BB87-050578-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,5080-192821-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,386-440791-5)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,386-440776-3)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,315054-003)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,2R87-400438-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,2986-427120-11等)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,2986-400489-15)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,2980-006519-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1R86-454278-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1R86-429424-13)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1A86-09C117-15)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1987-000056-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1886-455231-14等)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1386-457689-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1386-457688-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1386-451850-13等)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1386-447881-11)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1386-444582-12)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,036-004497-1)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,036-003582-1)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,036-000500-1)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,036-000178-1)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,036-000121-1)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,036-000047-1)
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光电传感器(半导体生产设备用零件,
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光电传感器(半导体生产设备用零件)
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传感器/平板显示器激光修复机零件
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传感器(安必昂牌,贴片机专用零件)
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专用传感器(多功能数码复印机零件)
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微距地面激光扫描仪/型号:Faro Focus3D 120
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双通道FLIM系统/型号:steREO Discovery V.20
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四通道易拉盖半成品在线光检设备
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IC芯片光学检测机LSCAN-4K-A-1
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洁净度检测仪,用途(适用机型):用于为颗粒计数及分析,并测量样品清洁等级.可应用于测量0.5-400微米直径的颗粒.具体分析功能,显示为ISO4406 1999对应颗粒物数量级别的样品清洁等级
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光电传感器,815K02550
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光电传感器,130K72581
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光电传感器,130E82530
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激光测振仪/型号:CLV-2534-4
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旧液晶模组漏光检测机/光学检测
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光电传感器,130P00225
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静态光纤光栅解调器/型号:Sm125-500
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晶片表面检测组件(品牌:KLA-TENCOR,利用光学原理检测晶片表面的平整度,晶片缺陷检测仪用,由传感器,反射镜,透镜和固定支架组成)
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光纤表面缺陷检测仪Surface Inspection
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光纤表面缺陷检测仪FIBER LUMP
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激光厚度测量仪/型号:SmartScope ZIP250
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干法比表面积级配分析仪/型号:HELOS/BR-OM
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3D光学表面轮廓仪;ZYGO;表面形貌测量,图像数据采集
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高精度三维表面测量仪系统(品牌:TAYLOR HOBSON)
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多光谱光声断层扫描系统/型号:MSOT inVision256-TF
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(旧)磁盘表面检查设备/九成新
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离心模型试验表面变形3D测量系统
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椭偏仪;超薄介质表面测量;J.A.WOOLLAM
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平板显示器玻璃基板表面粒子光学检测机
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三维形貌与测厚仪;观测样品表面纳米尺度的三维形貌;Bruker;对样品表面物理化学特性进行研究
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照度计(品牌OAI,用于检测晶片表面的光亮度,通过测光探头吸光后把光能转换成电能在界面上产生光电效应,从而测的数据)
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照度计(品牌OAI,用于检测晶片表面的光亮度
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动态干涉仪(利用激光测量光学元件表面面型精度)
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照度计(品牌USHIO,用于检测晶片表面的光亮度
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光学接触角测量仪;Dataphysics Instruments GmbH;测量液体样品的接触角、表面张力、表面自由能
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光电传感器(半导体生产设备用零件,1R36-000001-11)
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Metrascan210型三维激光扫描仪
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光信号感测器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,装
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传感器(用于制造半导体器件设备等通用传感器,品
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利用光学测量上料位置的传感器sensopart
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快门测试仪CURTAIN SPEED ADJUSTING JIG
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快门测试仪7FDC-5000S257 TEMPERATURE
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大灯测试仪 BEAMSETTER
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外观测试仪VISION TESTER
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自相关仪/型号:FR-103WS/IR/FA/1800/3000
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消光比测试仪 POLARIZATION CONTROLLER
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水滴角测试仪 CONTACT ANGLE ANALYZER
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前大灯测试仪标定组件(标准光源)
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光分布测试仪/箱式(附带驱动盘)
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皮肤弹性测试仪,型号:MPA580
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逆反射系数测试仪/型号:932
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磁卡阻光度测试仪 CARD OPACITY TESTER
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激光多普勒测试仪;Sunny;振动测量;激光多普勒原理;非接触式振动测量
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影像测试设备(利用光学原理检测)