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光学检测仪
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自动光学检测仪器底座 16PCS
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连接杆/光学检测仪器用/钢铁制
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光学检测仪零件/底座、支撑架等
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自动光学检测仪(有记录装置)(旧)
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VCM马达位移/倾角光学检测仪系统
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照明器总成（光学检测仪器配件）
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光纤端面光学检测仪专用零件(夹具)
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背光模组各组件相对位置光学检测仪
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锂电池隔膜表面瑕疵自动光学检测仪
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光纤端面光学检测仪用产品固定夹具
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五轴合一 倾角/平移/高度 光学检测仪
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反射镜片/光学检测仪器用/起反射作用
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分切机用检测系统（自动光学检测仪）
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光学检测仪(立体显微镜)Industrial Microscope
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反射镜/光学检测仪器用/起反射作用/玻璃制
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（旧）晶片三维表面光学检测仪（五成新）
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光源模块(ASML.安装于光学检测仪器中.产生光
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伺服控制器/用于光学检测仪器/反馈控制原理
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支架/专用于光学检测仪器/支撑和固定传送带
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反射镜片/光学检测仪器用/起反射作用/玻璃制
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光学检测仪专用零件（图像接收器 安装辅件）
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吸杆/专用于光学检测仪器/用于被测产品的吸取
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自动光学检测仪(旧/生产年限2005年1月,可使用15年)
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卡持器/专用于光学检测仪器/用于被测产品的抓取
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光学检测仪专用零件（光学色标器，图像接收器）
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光源模块(ASML.安装于光学检测仪器中.产生光源.以实现
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真空吸盘/光学检测仪器用/由不锈钢吸盘柱与橡胶盘构成
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光学相干层析检测仪(成套散件)
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手机零部件尺寸检测仪/光学检测
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相机驱动卡(光学自动检测仪零件)
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光学纳米聚焦检测仪器专用配接环
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晶片缺陷检测仪用光学位置检测器
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光学镜头（光致发光检测仪用）/旧
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光学自动检测仪用主板放置载具(旧)
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检测仪/半导体制造设备用/光学原理
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镜筒光学解像力检测仪用电机控制盒
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光学带钢边部裂纹检测仪.EDGE CRAKE DETECTOR
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颗粒检测仪(ASML.利用光学原理扫描晶圆的上下
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透镜(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,经光学
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光学位移检测仪器功能模块用配件（方向调节器）
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光学镜头(KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加工已
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透镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪专用.经光学加工
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反光镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加工
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编码器(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.通过光学感
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分光器(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.通过经光学
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反光镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪专用.经光学加
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反光镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加工
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滤光镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加工
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光学镜头(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加
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滤光镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加工
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反射镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加工
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反射镜(品牌:KLA-TENCOR.晶片缺陷检测仪用.经光学加工
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编码器(品牌:RENISHAW.晶片缺陷检测仪用.通过将光学感
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棱镜(品牌RUDOLPH.经光学加工已装配.晶片缺陷检测仪用
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物镜(品牌RUDOLPH.经光学加工未装配.晶片缺陷检测仪用
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透镜(品牌RUDOLPH.经光学加工已装配.晶片缺陷检测仪用
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光学透镜(品牌RUDOLPH.晶片缺陷检测仪用.经光学加工已
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分光镜(品牌RUDOLPH.经光学加工已装配.晶片缺陷检测仪
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滤光镜(品牌RUDOLPH.经光学加工未装配.晶片缺陷检测仪
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颗粒检测仪(ASML.利用光学原理扫描晶圆的上下表面.从
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反射镜(品牌RUDOLPH.经光学加工已装配.晶片缺陷检测仪
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光学位移检测仪器专用机箱配件（铁合金机箱前面板）
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板摆控制系统（利用光学原理检测玻璃位置的检测仪）
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光学聚焦调整组件(晶片缺陷检测仪专用零件.由齿轮.导
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反光镜(晶片缺陷检测仪用.用于光路中反射光线.经光学
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滤光镜(晶片缺陷检测仪用.经光学加工已装配.用于过滤
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激光型位置检测器(晶片缺陷检测仪用其他光学 测量器具
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支架(晶片缺陷检测仪专用零件.用于机台内支撑光学备件
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编码器(晶片缺陷检测仪用.通过将光学感应到的数据信号
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光路偏振组件(晶片缺陷检测仪专用.由经光学加工己装配
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光学镜头(品牌:OLYMPUS,经光学加工已装配,晶片缺陷检测仪用)
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光学镜头(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪用,经光学加工已装配)
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反射镜(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪用,经光学加工已装配,带支架和固定件)
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反光镜(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪用,经光学加工已装配,用于光路中反射光线)
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固定件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用零件,不锈钢制,用于机台内固定光学镜头)
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滤光片(品牌:KLA-TENCOR,未经光学加工,晶片缺陷检测仪专用零件,玻璃制,用于滤光,已制成特定形状)
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光学隔离器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,用于隔离反向光路的反射,内含光纤外层塑料包裹)
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滤光镜(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪用,经光学加工已装配,把一部分光滤掉,保留可检测光,带固定盖板和底座)
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分光器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪用零件,通过经光学加工已装配棱镜将光线分散,降低光线强度,装有固定支架)
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晶片感测器(品牌:SUNX,利用光学射线原理感应晶片的前方是否有障碍物,晶片缺陷检测仪用,含光源发射和接收两个部件)
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编码器(品牌:RSF,具有独立功能的电气装置,通过光学感应到数据信号,经解读后得到平台移动的精确位置,晶片缺陷检测仪用)
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晶片表面检测组件(品牌:KLA-TENCOR,利用光学原理检测晶片表面的平整度,晶片缺陷检测仪用,由传感器,反射镜,透镜和固定支架组成)
