查看新版本:
厚度测量仪器
8477900000
板材厚度测量计(10178544)
9031499090
光学校准器/薄膜厚度测量系统用
8539399090
氙气灯/半导体薄膜厚度测量系统
8537109090
控制电路板/薄膜厚度测量系统用
9031410000
薄膜厚度测量设备(旧)/检测晶圆用
9031499090
激光厚度测量仪/型号:SmartScope ZIP250
8539399090
氘灯/用于半导体薄膜厚度测量系统
9031809090
手持式涂层厚度测量仪.THICKNESS METER
9031900090
镀层厚度测试仪零件,测量头,主机
9031803300
燃料组件氧化膜厚度及直径测量装置
9017300000
风力发电叶片厚度测量用数字千分表
8486909900
半导体薄膜厚度测量系统专用装载台
9017300000
测量风力发电叶片厚度用数字千分表
8539219000
卤钨灯/用于半导体薄膜厚度测量系统
7020001990
石英管.用于半导体薄膜厚度测量系统
9031900090
镀层厚度测试仪零件(测量头,线路板
8504401990
交流稳压电源/半导体薄膜厚度测量系统用
8419500090
液体冷却器,用于半导体薄膜厚度测量系统
9031410000
半导体薄膜厚度测量仪/检测晶圆薄膜厚度
8539399090
氚灯.用于半导体薄膜厚度测量系统.品牌NANO
8539399090
氙灯.用于半导体薄膜厚度测量系统.品牌NANO
3926901000
传动带.用于半导体薄膜厚度测量系统.塑料制
8537109090
控制电路板/薄膜厚度测量系统用/有控制功能
3926901000
传动带(品牌:KLA-TENCOR,塑料制,传动用,厚度测量
9002199090
取景器,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
8539219000
卤钨灯,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
4016991090
防震垫.用于半导体薄膜厚度测量系统.硫化橡胶制
8537109090
控制电路板,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
9031900090
微型定位平台(旧)/晶圆薄膜厚度测量设备专用零件
9031900090
镀层厚度测试仪零件,测量头,线路板,探头,驱动单元
8477900000
板材厚度测量计(品牌PULSOTRONIC.真空热成型机专用.利
8504401400
直流稳压电源.用于半导体薄膜厚度测量系统.品牌NANO
9018500000
准分子激光角膜屈光治疗机用实时角膜厚度测量系统
9031809090
高压功率器件表面轮廓仪(测量台阶高度、薄膜厚度等)
9013200099
激光器,用于半导体薄膜厚度测量系统,将激光束通过光
8486403900
机械臂.用于半导体薄膜厚度测量系统.移动搬运晶片用
9031410000
晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
9031900090
镀层厚度测试仪零件,测量头,接收器,探头,标准块
9031900090
基准片.已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统
9031900090
镀层厚度测试仪零件.测量头.线路板.驱动单元.显示单元
9031900090
保温罩,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,
9013200099
激光器,用于半导体薄膜厚度测量系统,将激光束通过光学
9031900090
检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,
9031900090
灯源盒.已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统.
9031900090
基准片,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,NANO牌
9031900090
保温罩,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,塑料制
9031900090
检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,钢铁制
8504401400
直流稳压电源/半导体薄膜厚度测量系统用/功率
9031900090
遮光器,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,光路切换用
8504401400
直流稳压电源(旧)/半导体薄膜厚度测量系统用/功率
8537109090
控制电路板,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO,开环控制,发出控制信号
9013200099
激光器,用于半导体薄膜厚度测量系统,将激光束通过光学系统聚集至工件上
8542319010
芯片/厚度0.05-0.8MM