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表面电阴测量设备
9031809090
表面粗糙度测量仪/化学气相沉积设备用
8504500000
电感器/测量用电生产设备的电流
9030899090
设备备件-离子发生器电量测量器
9031809090
间隙测量片/铜电镀设备用/物理测量原理
8526919090
高精度测量系统（其他无线电导航设备）
9030900090
电学特性测量设备零件-8插槽精密测量主机
9025191090
热电偶/真空镀膜设备用/温度感测原理测量/非液体式
9025191010
热电偶/真空镀膜设备用/温度感测原理测量/非液体式
9030339000
电压测量仪(用于半导体设备,不带记录装置,品牌APPLIED
9030841000
电感电容电阻测量计/半导体设备用/测量电感电容电阻
9030332000
电阻表(品牌TEL,用于测量电气设备的绝缘电阻,不带记录
9031809090
单通道应变遥测系统;柴油机旋转部件应变的测量;KMT;电磁感应;测试被测设备的应变
8504402000
(旧)三通道直流电源(品牌:AGILENT,用于设备供电电源,输出波纹和噪声较低,内置测量和基本编程功能)
9030339000
电压测量仪(用于半导体设备,不带记录装置,品牌LEVANON,测量电压的大小,无测试结果显示,检测对象是半导体设备电路电压)
9031809090
高度测量计(用于制造半导体器件设备上,品牌AMAT,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台水平高度,有测试结果显示,显示高度值)
9031809090
卫星导航产品敏感度试验系统,测量卫星导航设备的电磁兼容传导敏感度,SOLAR,生成脉冲干扰通过探头注入被测设备,模拟电磁经干扰测试被测设备
9031809090
水平检测仪(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示)
9031499090
光栅尺(运用在精密测量设备上,用来精密计算测量物体的位移,根据摩尔条纹原理,通过光电转换,以数字方式表示线性位移量,40uM 栅距,分辨率0.1uM,输出长度位置尺寸,品牌:Carl Zeiss)
9031809090
汽车电磁兼容辐射抗扰度测试设备(成套散件);罗德与施瓦茨;汽车电磁兼容实验用;信号发生器生成各种波型,由功率放大器放大通过发射天线,发射电磁波;测量汽车电子对外界电磁场的可承受度
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌LS MECAPION,通过激光扫描游标所生产的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量同电机运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上,品牌APPLIED MATERIALS,通过激光扫描游标所产生的光电随电机移动,传送到光栅尺上,测量出电机 运动的线性位移量,检测对象是电机机械运动位移量,无测量结果显示)
9031900090
芯片表面测量仪用高精度垂直压电轴
9030390000
飞机维修用导电漆表面电阻测量工具
9030332000
发电机定子线圈端部表面电位测量仪
9031809090
静电检测仪;材料表面静电电压测量;通过音叉振动测得电压;非接触式表面静电测量;TREK
9031809090
粗糙度仪;JENOPTIK;电感式传感器在被测量物体表面的滑动,拾取物体表面的波纹度;测量物体的粗糙度
9030390000
纳米变温电导系统;测量样品加热状态下的纳米尺度的电学信息;分析样品表面在温度变化中的电学特性;Bruker;带记录装置
9031900090
聚焦仪(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由电路板和外壳组成,根据光信号打到晶圆表面的信号大小,测量并传输聚焦信号,不可读数)
9031900090
偏振器组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由固定底座,固定框架,偏振镜,传感器,电路板和马达组成,将普通光源发生的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚)
9026209090
热阴极真空电离规/测量真空压力
9015800090
全站仪测量设备/精度0.6mm
9031499090
ARGUS 网格应变测量系统设备
9015900090
地球物理测量设备VTEM发射机
9031900090
旋转台(光学测量设备专用零件)
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-接头
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-支架
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-框架
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-盖子
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-铝槽
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-夹钳
7616991090
测量仪器设备配件-滑动轴承块右
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-套管
8483900090
光学测量仪器测量设备配件-接头
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-盖子
9031900090
汽车检测维修设备零件(3D测量臂)
9027100090
微碳烟测量设备 Micro Soot Sensor 483
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-凸轮
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-夹具
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-套管
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-底座
9030900090
设备备件-X射线测量仪专用隔离膜
8443992990
其他数字印刷设备零件(测量单元)
9031900090
标准(光学讯号测量校正设备零件)
9031499090
非接触式高精度测量设备/COMET 6 16M
9031410000
薄膜厚度测量设备(旧)/检测晶圆用
8543709990
超声诊断设备水听器声强测量系统
8421399090
设备备件-过滤器[气体的测量装置]
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-支架右
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-支架左
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-固定座
7326901900
光学测量仪器测量设备配件-安装板
9031492000
光栅测量装置/物理气相沉积设备用
9031900090
管路组件/晶圆曝光质量测量设备用
8543709990
光学测量仪器测量设备配件-编码器
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-安装板
9030900090
设备备件-X射线测量仪专用测量模块
9031809090
高度测量仪/半导体设备用/高度测量
9026209090
压力测量仪(旧)/物理气相沉淀设备用
9031900090
油嘴冲洗及升程测量设备用工件托架
8431431000
测量接管总成（石油钻采设备配件）
7616991090
光学测量仪器测量设备配件-软管接头
9031802000
三坐标测量机(合同号PO1505035A.新设备)
8543709200
衰减扫描放大器/关键尺寸测量设备用
9027100090
设备备件-气体的测量装置(气体侦测器)
9017800000
其他手用测量长度的器具（校准设备）
9026809000
设备备件-气体侦测器[气体的测量装置]
9031809090
量规/E18288190/测量校准设备间隙/APPLIED牌
9030900090
设备备件-X射线测量仪专用高压信号模块
9030100000
可移动式气溶胶和碘取样器测量设备探测器
9015100000
间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.
9032899010
流量控制器/半导体设备用/测量控制气体流量
9015900090
测量地下含油含气量设备零件(球和球座总成)
9031900090
半导体测试设备用配件(测量机台升级安装包)
9025191010
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌
9025191090
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌
9031809090
后挡总成玻璃用检具(测量后挡玻璃尺寸的设备)
9031809090
等离子体增强化学气相沉积设备用平整度测量仪
9031900090
发动机平衡轴齿隙测量设备零件/曲轴夹爪组件等
9032899010
流量控制器/半导体设备用/测量和调节气体的流量
9026809000
离子规(测量设备真空度,无计量装置,品牌:THERMO等)
8515900090
串口测量板(品牌ABB,多功能工业机器人弧焊设备专
9024800000
高密度等离子体源设备（原位摩擦性能测量部分）
9031900090
微型定位平台(旧)/晶圆薄膜厚度测量设备专用零件
9031492000
线性位移测量(用于制造半导体器件设备上.品牌APPLIED
8421399090
设备备件-过滤器[气体的测量或检验装置及其零配件]
9031492000
线性位移测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌RENISH
8481803990
质量流量控制器/半导体设备用/测量和调节气体的流量
9025191010
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌FLUKE.通过
9025191090
高温测量仪(用于制造半导体器件设备上.品牌FLUKE.通过
9027300090
分光器(旧.光掩膜设备用.功能是通过光学射线测量放射
9027300010
分光器(旧.光掩膜设备用.功能是通过光学射线测量放射
8481803990
质量流量控制器(旧)/半导体设备用/测量和调节气体流量
9026100000
激光化学气相沉积修补设备用镭射水流传感器,无品牌,测量液量液体的流量,水
9031499090
激光对中仪;测量传动设备的安装同轴度;通过测量旋转部件的位移变化量,计算出设备的旋转中心线;Fixturlaser
9031809090
环境风洞设备用空调性能数据处理系统;风洞实验过程中的温度,风量,转速等指标进行测量;通过传感器测试;SYSTEL
9031499090
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况,非光栅测量装置)
9031499090
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状的目的,非光栅测量装置)
9031499090
传感器(用于制造半导体器件设备等,光学传感器,品牌AMAT,功能是利用光学原理达到感应物体位移状况的目的,非光栅测量装置)
9031809090
间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量腔室内部的间隙的距离,品牌APPLIED MATERIALS,通过金属探头感应来测量,检测对象是间隙距离距离,无测试结果显示)
9011800090
表面测量仪/光学原理/SIMAC牌
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(延长杆)
9022299090
XH-3206便携式αβ表面污染测量仪
9031900090
表面粗糙度形状测量机专用V型台
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(曲面测针)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(标准测针)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(测头单元)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(精密卡钳)
9031900090
表面粗糙度测量仪零件(探头,probe)
9031499090
离心模型试验表面变形3D测量系统
9031900090
表面粗糙度测量仪附件（台架等）
9031900090
表面粗糙度测量仪附件（工作台）
9031900090
表面粗糙度测量仪附件（测头等）
9031900090
表面粗糙度测量仪附件（测针等）
9031809090
表面粗糙度和轮廓形状测量复合机
9031900090
表面粗糙度形状测量机专用放置盘
9031900090
表面粗糙度形状测量机专用调整台
9031900090
表面粗糙度形状测量机专用防震台
9031900090
表面粗糙度形状测量机专用除振台
9031499090
椭偏仪;超薄介质表面测量;J.A.WOOLLAM
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(十字工作台)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(台架、测针)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(小孔检出器)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(小孔检测器)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(标准检出器)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(标准检测器)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(粗糙度测针)
9031499090
表面三维扫描测量系统（成套散件）
9031900090
表面粗糙度测量仪附件(夹具,工作台)
9031900090
表面粗糙度测量仪附件（工作台等）
9031900090
表面粗糙度形状测量机专用测头模块
9031900090
表面粗糙度测量仪用倾斜度调整装置
9031410000
膜厚测试仪（旧）/测量晶圆表面膜厚
9030900090
表面沾污仪用零件（地面污染测量架）
9031900090
表面粗糙度形状测量机专用测针交换架
9031410000
膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚
9031900090
表面粗糙度测量仪专用附件（测针等）
9030900090
线宽基准片(晶片表面金属线宽度测量仪)
9030100000
能谱仪系统(测量样品表面微观元素成分)
9030900090
深度基准片(晶片表面金属线宽度测量仪)
9030900090
表面沾污仪用零件（擦拭样品测量组件）
9031900090
表面粗糙度测量仪用驱动部件(无动力装置)
9030100000
能谱仪系统（测量样品表面微观元素成份）
9030100000
α、β表面污染检测仪(测量α、β辐射的强弱)
9031499090
高精度三维表面测量仪系统(品牌:TAYLOR HOBSON)
9031809090
光洁度尺(测量工件表面粗糙度,测量范围CH0-CH45)
9031410000
自动薄膜应力测量仪(旧)/测试晶圆表面薄厚应力
9031499090
动态干涉仪(利用激光测量光学元件表面面型精度)
9031499090
3D光学表面轮廓仪;ZYGO;表面形貌测量,图像数据采集
9031809090
高度调整治具/利用仪表上的触头接触待测表面测量
9024800000
多功能表面微纳力学检测仪（测量非金属材料硬度、
9031809090
高压功率器件表面轮廓仪(测量台阶高度、薄膜厚度等)
9027300010
红外光谱仪（用于测量样品表面反射光线的光谱成分）
9027501000
光学线宽测量仪/用紫外线可见光光谱检测/检测晶圆表面
9031809090
大口径表面轮廓仪;为平面和球面光学元件高频面形测量;ZYGO
9031491000
换针式轮廓测量仪;分析样品表面结构及形态;观察材料表面;KLA-Tencor
9031410000
自动光学晶圆检验机;Camtek;IT行业,测量晶圆的划伤、裂痕等表面状态
9011100000
立体显微镜;LEICA;3D表面形貌测量;通过软件合成两个镜头相片成立体照片
9031809090
轮廓测量仪,T&S,通过采集工件表面轮廓数据来评价获得表面轮廓参数,测量产品表面轮廓
9031499090
光学接触角测量仪;Dataphysics Instruments GmbH;测量液体样品的接触角、表面张力、表面自由能
9031900090
偏光器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,用于改变光路偏转角度,用来测量晶圆表面膜厚)
9027300090
高光谱辐亮度计;用于极区海冰反照率观测研究;Trios;测量海冰表面上下行谱辐射得到反照率
9031900090
探测头(品牌RUDOLPH,晶片缺陷检测仪专用零件,安装在机台内深度测量器顶端,用于探测被检晶片表面信息)
9031491000
测量投影仪;MITUTOYO;通过二维光学测量,观察工件表面形状和检查微小的组装部件;检查金属工件的投影能力
9031499090
光学形变测量仪;考察汽车零件的非线性变形,疲劳试验等;测量零件负载后表面全场的三维变形和应变分布;ARAMIS
9031809090
纳米级探针测量仪;Mad City Labs;传感器反馈与位移信息获得微观形貌图;亚纳米级表面形貌测试;谐振谱测量,拉曼增强测试
9031809090
表面测量仪;测量滚子等工件的圆度和波纹度;SKF;通过传感器采集周对称工件表面形状参数,软件评价获得圆度和波纹度数值
9031499090
激光共振扫描测量仪;Thorlabs;扫描获取被测物体表面坐标和反射光强度;发射激光来扫描获取被测物体表面坐标和反射光强度
9031900090
偏光器组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由偏光镜和马达,固定框架组成,将普通光源发出的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚)
9031809090
铁轨波磨分析系统;测量钢轨波磨的程度;通过测量钢轨波磨的波长和幅度,得到其频谱特性;是测量与分析钢轨波磨和表面粗糙度的专门仪器;Railmeasurement
9031900090
偏振器组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由固定底座,固定框架,偏振镜和马达组成,将普通光源发出的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚)
