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面铜测厚仪
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面铜测厚仪
****421100
电缆(KLA-TENCOR.晶片膜厚检测仪器用.有接头.内层铜芯
****410000
膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面膜厚
****410000
膜厚测试仪(旧)/测量晶圆表面胶膜膜厚
****900090
偏光器(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,用于改变光路偏转角度,用来测量晶圆表面膜厚)
****499000
三维形貌与测厚仪;观测样品表面纳米尺度的三维形貌;Bruker;对样品表面物理化学特性进行研究
****900090
偏光器组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由偏光镜和马达,固定框架组成,将普通光源发出的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚)
****900090
偏振器组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由固定底座,固定框架,偏振镜和马达组成,将普通光源发出的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚)
****900090
偏振器组件(品牌:KLA-TENCOR,晶片缺陷检测仪专用,由固定底座,固定框架,偏振镜,传感器,电路板和马达组成,将普通光源发生的散射光转换成偏振光,用来测量晶圆表面膜厚)