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半导体器件测试系统
9030820000
QuickTest牌半导体器件直流测试系统
9030820000
半导体分立器件动态参数测试系统
9030820000
ITC牌半导体器件电感负载测试系统
9030900090
半导体功率器件动态参数测试系统用零件(扩展装置)
9031809090
1/f噪声测试系统;Cascade;用于测试SOI器件的1/f噪声;半导体晶圆等电子器件噪声参数测试;噪声参数测试
9030900090
半导体参数测试系统零件(主板)
9030900090
半导体参数测试系统零件(探针)
9030900090
半导体参数测试系统零件(电路板)
9030900090
半导体参数测试仪系统零件(主板)
9030900090
半导体参数测试系统零件(测试板)
9030900090
半导体测试系统4通导信号通道电路板
9030900090
半导体参数测试系统零件(电信测试板)
9030900090
半导体参数测试系统零件(测试电路板)
9030900090
半导体参数测试系统零件(连接电路模组)
9030900090
半导体参数测试系统零件(探针测试模组)
9030820000
绝对荧光量子产率测试系统（半导体用）
9030820000
半导体性能自动测试系统（带记录装置）
9030900090
半导体参数测试系统零件(高功率源测单元)
9030900090
半导体参数测试系统零件(晶圆托盘测试板)
9030820000
半导体太阳能电池用加速紫外老化测试系统
9030900090
半导体参数测试系统零件(电源供应测试模组)
9030900090
半导体参数测试系统零件(探针测试电路模组)
9031410000
全自动覆盖测量系统/有测试结果/半导体制造用
9030900090
半导体参数测试系统零件(载台探针连接电路模组)
9030900090
半导体参数测试系统零件(高解析度探针电路模组)
9030900090
半导体参数测试系统零件(中功率电源供应测试模组)
9030900090
半导体参数测试系统零件(低电流信号切换电路模组)
9030900001
ETS88型半导体测试机测试头通信控制电路板(电路板),测试系统控制和数据处理(适用于ETS88测试机),EAGLE
9030820000
晶圆检测系统/半导体器件生产用
8479820090
化学品混合系统/半导体器件生产用
9030820000
半导体器件高精度电学参数测量系统;
8479899990
半导体激光多单元器件准直耦合系统/AL2000 AA
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气
8486204100
等离子体干法蚀刻系统/半导体器件生产用/TEL牌
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气相
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气相沉淀
9027900000
探针(制造半导体器件设备中PH值检测系统专用零件.已制
8486909900
磁流体密封系统(专用于制造半导体器件物理气相沉淀机
8486201000
卧式氧化扩散炉管系统;SVCS;高温氧化制造半导体器件进行科研;高温环境下,将元素扩散入器件
8486302200
多靶磁控溅射镀膜系统;将靶材上的材料均匀沉积到器件上;利用等离子体溅射原理,用于半导体器件;丹顿
9030820000
半导体器件高温高湿测试仪(旧)
9030841000
半导体器件电感负载测试仪(旧)
9030900090
半导体元器件测试机零件(接插件)
9030900090
半导体元器件测试机零件(线路板)
9030900090
半导体器件测试设备用信号评估板
9030820000
用于半导体器件老化测试的老化台
9030820000
半导体器件高加速温湿度测试仪(旧)
9030900090
IC半导体元器件抗静电测试仪专用线路板
9030900090
探针排支架(用于制造半导体器件电子束测试
9030841000
半导体器件电感负载测试仪/测试半导体器件
9031900090
旧测试版(旧半导体器件光学测试封装机部件)
9031900090
测试板（旧半导体器件光学测试封装机部件）
9030900090
探针排(用于制造半导体器件电子束测试机台内
9030900090
探针排支架(用于制造半导体器件电子束测试机
8543209090
信号发生箱(用于制造半导体器件55K电子束测试设
9031900090
旧测试基板(旧半导体器件光学测试封装机之部件)
8543709930
数模转换器(用于制造半导体器件电子束测试机台上
9031900090
测试板修理费（旧半导体器件光学测试封装机部件）
9030900090
探针排(用于制造半导体器件电子束测试机台内部上.品
9026209090
真空计(用于制造半导体器件电子束测试机台上.品牌MKS.
8486909900
密封板(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部
9031900090
探针固定架带电路板(用于制造半导体器件电子束测试机
9031900090
光电转换器(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台
9031900090
光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内
9030900090
探针排(用于制造半导体器件电子束测试机台内部上.品牌
9030900090
电子束导向管(专用于制造半导体器件电子束测试机台上.
9030900090
探针排支架(用于制造半导体器件电子束测试机台内部上.
9031900090
旧测试基板(旧半导体器件光学测试封装机之部件)维修费
9030820000
测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
9030820000
低泄漏开关;测量半导体晶圆上必要参数;对半导体器件进行测试;AGILENT
8486909900
支架(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部,品牌AMAT,起支撑作用)
9030390000
半导体参数分析仪;半导体器件I-V曲线测试;测试半导体的电流,电压值;Agilent
8486909900
密封板(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部上,品牌AMAT,起密封真空腔的作用)
9030900001
旧逻辑板;作为测试信号生成的功能零部件,专用于装配在半导体器件用测试机中(适用T6575);ADVANTEST
9030339000
传感器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机内部,功能是功率感应及检测,不带记录装置,品牌AE,没有测试结果显示)
9031809090
内引线键合拉力及芯片剪切力测试仪;将力学信号转为电子信号,分析数据;芯片电极;DAGE;测试实验室半导体器件焊接牢固性
9030899090
功率校验标准器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机上,品牌BIRD ELECTRONIC,功能:校准射频发生器功率,有测试结果显示,显示功率)
9031809090
校准仪(专用于制造半导体器件设备缺陷检查设备,品牌APPLIED MATERIALS,用于半导体设备生产中的晶圆方向的预设及方向校正,无测试结果显示)
9031809090
高度测量计(用于制造半导体器件设备上,品牌AMAT,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台水平高度,有测试结果显示,显示高度值)
9030900001
J750混合信号测试数字测试部分通道板(电路板);被测器件的模拟信号做数模转换后输送到计算机上计算,用于测试半导体晶元(适用于J750测试机);泰瑞达
9031809090
间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量腔室内部的间隙的距离,品牌APPLIED MATERIALS,通过金属探头感应来测量,检测对象是间隙距离距离,无测试结果显示)
9031809090
水平检测仪(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示)
9031809090
弹簧测力器(用于半导体器件设备化学气相沉淀机内部上,品牌AKT,原理是作为测力器,用于测试载盘在机械手臂上的摩擦力,功能是用于测试磨擦力,有测试结果显示,显示N.M的单位的力)
9031900090
光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部上,通过光电转换原理将电子信号收集后放大转换成图像信息,品牌:应用材料定制,型号:0241-58455,非简易二极管或者光电耦合器)
8486909900
3W型腔(半导体制造系统用零件)
9018901000
半导体激光手术系统零件(光纤)
8418999990
半导体制冷系统配件(PCB线路板)
9013200099
852nm半导体激光系统/DLC TA pro 852
9018909991
半导体激光手术系统零件(光纤)
9013200099
单频半导体激光器系统LASER SYSTEM
8539399090
氙气灯/半导体薄膜厚度测量系统
8471504090
服务器/半导体设备用/无操作系统
9012100000
中红外可调谐半导体激光光谱系统
9013901090
高功率半导体激光器系统专用电源
9031809090
半导体材料电学性质测量综合系统
9018909991
半导体激光治疗系统零件:激光光纤
9030820000
半导体/电子芯片三维在线检测系统
9018901000
双波长半导体激光系统用附件 手柄
8539399090
氘灯/用于半导体薄膜厚度测量系统
9018901000
半导体激光治疗系统零件:激光光纤
8418999990
半导体制冷式红酒柜配件:制冷系统
9018909991
双波长半导体激光系统用附件 手柄
9030820000
半导体特性分析系统（带记录装置）
8486909900
半导体薄膜厚度测量系统专用装载台
9018909991
半导体激光治疗系统零件:激光电路板
8539219000
卤钨灯/用于半导体薄膜厚度测量系统
9018901000
双波长半导体激光系统用附件 手柄头
9018901000
半导体激光治疗仪系统配件-理疗手柄
9018901000
半导体激光治疗系统零件:激光电路板
7020001990
石英管.用于半导体薄膜厚度测量系统
9018909991
双波长半导体激光系统用附件 手柄头
9018909919
半导体激光治疗仪系统 DIODE LASER SYSTEM
9030820000
半导体特性分析系统（品牌：KEITHLEY）
9013200099
动物理疗半导体激光系统VET THERAPY LASER
8486909900
半导体化学气象沉积系统用激发辅助器
8543709990
臭氧水发生输送系统/半导体生产设备用
8486102000
半导体晶圆边研系统/旧/2012年产/七成新
8479820090
半导体化学合成混合系统/2007年产/八成新
8418999990
半导体制冷式家用型红酒储藏柜制冷系统
8421999090
半导体制造离子注入机纯水系统用过滤芯
8504401990
交流稳压电源/半导体薄膜厚度测量系统用
8419500090
液体冷却器,用于半导体薄膜厚度测量系统
8486202200
半导体金属离子PVD蒸发系统/2004年产/七成新
8539399090
氚灯.用于半导体薄膜厚度测量系统.品牌NANO
8486909900
半导体化学气象沉积系统用气体解离辅助器
8539399090
氙灯.用于半导体薄膜厚度测量系统.品牌NANO
9018901000
半导体激光治疗仪系统附件-理疗手柄HANDPIECE
9018909991
半导体激光治疗仪系统附件-理疗手柄HANDPIECE
3926901000
传动带.用于半导体薄膜厚度测量系统.塑料制
9002199090
取景器,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
9013200099
激光器.用于半导体套刻精度检查系统.品牌NANO
8539219000
卤钨灯,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
8419899090
冷却系统/调节半导体设备腔体的加工过程温度
8418999990
半导体制冷式家用型红酒储藏柜配件:制冷系统
8486909900
信号电路板(品牌ESI,激光半导体加工系统专用零
9030820000
半导体特性分析系统（半导体专用/带记录装置）
8486909900
半导体化学气象沉积系统(PECVD)用配件激发辅助器
8414599050
轴流风扇(品牌ESI,散热用,激光半导体加工系统用)
9013909090
激光器配件;配合半导体激光器系统使用;Thorlabs,INC
4016991090
防震垫.用于半导体薄膜厚度测量系统.硫化橡胶制
8537109090
控制电路板,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
9030820000
半导体特性分析系统（半导体专用/不带记录装置）
8504401400
直流稳压电源.用于半导体薄膜厚度测量系统.品牌NANO
9031499090
半导体晶圆边缘外形光学检测系统/旧/2012年产/七成新
9013200099
激光器,用于半导体薄膜厚度测量系统,将激光束通过光
8486403900
机械臂.用于半导体薄膜厚度测量系统.移动搬运晶片用
8486909900
XY运动平台(品牌ESI,不锈钢制,激光半导体加工系统专用
8486909900
信号分配电路板(品牌ESI,激光半导体加工系统专用零件,
8486909900
信号电路板(品牌ESI,激光半导体加工系统专用零件,用于
9031410000
晶片角度测量仪,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO
9031900090
基准片.已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统
9013909090
半导体激光器配件;配合半导体激光器系统使用;Thorlabs,INC
8543709990
总线转换器(数字放射成像系统用零件,采用半导体转换接
9031900090
保温罩,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,
9013200099
激光器,用于半导体薄膜厚度测量系统,将激光束通过光学
9031900090
检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,
9031900090
灯源盒.已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统.
9013909090
半导体激光器系统配件;配合半导体激光器系统使用;Thorlabs,INC
9031900090
基准片,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,NANO牌
9031900090
保温罩,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,塑料制
9013909090
飞秒激光放大器系统配件;Thorlabs,Inc;配合半导体激光器系统使用
9031900090
检测台,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,钢铁制
8486202900
分子束外延系统;制备半导体材料;植被半导体或其他薄膜材料;RIBER
8504401400
直流稳压电源/半导体薄膜厚度测量系统用/功率
9031900090
遮光器,已制成特殊形状专用于半导体薄膜厚度测量系统,光路切换用
8504401400
直流稳压电源(旧)/半导体薄膜厚度测量系统用/功率
8537109090
控制电路板,用于半导体薄膜厚度测量系统,品牌NANO,开环控制,发出控制信号
9013200099
激光器,用于半导体薄膜厚度测量系统,将激光束通过光学系统聚集至工件上
9031809090
超声波扫描检测系统;SONIX;超声波扫描成像;IT行业,检测半导体封装产品是否存在刮伤、黑点、异物等
8471504090
电脑主机(品牌DELL,制造半导体的化学气相沉积设备用,用于存储及处理数据,WINDOWS SERVER2003操作系统,无显示器和输入部件)
9013200099
高功率倍频半导体激光器系统;输出窄线宽,可调,高功率激光;种子光通过放大芯片放大后,通过光隔离器,再耦合进倍频腔实现高功率输出;Toptica
9030820000
半导体测试治具/NVIDIA牌
9030900090
半导体测试机零件/PCB电路板
