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半导体器件测试系统
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QuickTest牌半导体器件直流测试系统
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半导体分立器件动态参数测试系统
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ITC牌半导体器件电感负载测试系统
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半导体功率器件动态参数测试系统用零件(扩展装置)
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1/f噪声测试系统;Cascade;用于测试SOI器件的1/f噪声;半导体晶圆等电子器件噪声参数测试;噪声参数测试
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功率器件测试系统/3620-TT
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CREDENCE线性模拟器件测试系统
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光波元器件测试系统用零件(磁场感应模块)
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纳米生物材料和器件测试系统附件:显微镜;观察细胞
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可变电容器;系统测试;GE;欧姆定律;测试功能;元器件参数分析仪
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标准电容器;系统测试;AGILENT;欧姆定律;测试功能;元器件参数分析仪
8534001000
印刷电路板(品牌JEC,22层,无电子元器件,集成电路自动测试系统用零件)
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测试接口板(品牌ADVANTEST,集成电路自动测试系统专用零件,连接测试机和被测元器件)
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可编程电源板(品牌:ADVANTEST,通过编程为测试器件提供直流电源,集成电路自动测试系统用)
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(旧)连续信号发生器(品牌:AGILENT,此仪器是移动通信和射频网络的元器件测试系统的信号源)
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电源控制板(品牌:ADVANTEST,集成电路自动测试系统用数控装置,装有电路接口,继电器等元器件,用于控制电源分配)
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信号接口板(品牌JEC,集成电路自动测试系统专用零件,安装在机台内部,用于测试机和被测元器件之间的信号连接)
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低温强磁场电学测试系统;Teslatron(强磁场)系统;Oxford;用于各类超导电子器件与超导薄膜性能测试;提供低温与强磁场电学测量系统
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半导体参数测试系统零件(主板)
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半导体参数测试系统零件(探针)
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半导体参数测试系统零件(电路板)
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半导体参数测试仪系统零件(主板)
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半导体参数测试系统零件(测试板)
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半导体测试系统4通导信号通道电路板
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半导体参数测试系统零件(电信测试板)
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半导体参数测试系统零件(测试电路板)
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半导体参数测试系统零件(连接电路模组)
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半导体参数测试系统零件(探针测试模组)
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绝对荧光量子产率测试系统（半导体用）
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半导体性能自动测试系统（带记录装置）
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半导体参数测试系统零件(高功率源测单元)
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半导体参数测试系统零件(晶圆托盘测试板)
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半导体太阳能电池用加速紫外老化测试系统
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半导体参数测试系统零件(电源供应测试模组)
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半导体参数测试系统零件(探针测试电路模组)
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全自动覆盖测量系统/有测试结果/半导体制造用
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半导体参数测试系统零件(载台探针连接电路模组)
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半导体参数测试系统零件(高解析度探针电路模组)
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半导体参数测试系统零件(中功率电源供应测试模组)
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半导体参数测试系统零件(低电流信号切换电路模组)
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ETS88型半导体测试机测试头通信控制电路板(电路板),测试系统控制和数据处理(适用于ETS88测试机),EAGLE
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半导体器件高温高湿测试仪(旧)
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半导体器件电感负载测试仪(旧)
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半导体元器件测试机零件(接插件)
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半导体元器件测试机零件(线路板)
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半导体器件测试设备用信号评估板
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用于半导体器件老化测试的老化台
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半导体器件高加速温湿度测试仪(旧)
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IC半导体元器件抗静电测试仪专用线路板
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探针排支架(用于制造半导体器件电子束测试
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半导体器件电感负载测试仪/测试半导体器件
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旧测试版(旧半导体器件光学测试封装机部件)
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测试板（旧半导体器件光学测试封装机部件）
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探针排(用于制造半导体器件电子束测试机台内
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探针排支架(用于制造半导体器件电子束测试机
8543209090
信号发生箱(用于制造半导体器件55K电子束测试设
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旧测试基板(旧半导体器件光学测试封装机之部件)
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数模转换器(用于制造半导体器件电子束测试机台上
9031900090
测试板修理费（旧半导体器件光学测试封装机部件）
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探针排(用于制造半导体器件电子束测试机台内部上.品
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真空计(用于制造半导体器件电子束测试机台上.品牌MKS.
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密封板(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部
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探针固定架带电路板(用于制造半导体器件电子束测试机
9031900090
光电转换器(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台
9031900090
光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内
9030900090
探针排(用于制造半导体器件电子束测试机台内部上.品牌
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电子束导向管(专用于制造半导体器件电子束测试机台上.
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探针排支架(用于制造半导体器件电子束测试机台内部上.
9031900090
旧测试基板(旧半导体器件光学测试封装机之部件)维修费
9030820000
测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用的仪器
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低泄漏开关;测量半导体晶圆上必要参数;对半导体器件进行测试;AGILENT
8486909900
支架(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部,品牌AMAT,起支撑作用)
9030390000
半导体参数分析仪;半导体器件I-V曲线测试;测试半导体的电流,电压值;Agilent
8486909900
密封板(专用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部上,品牌AMAT,起密封真空腔的作用)
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旧逻辑板;作为测试信号生成的功能零部件,专用于装配在半导体器件用测试机中(适用T6575);ADVANTEST
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传感器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机内部,功能是功率感应及检测,不带记录装置,品牌AE,没有测试结果显示)
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内引线键合拉力及芯片剪切力测试仪;将力学信号转为电子信号,分析数据;芯片电极;DAGE;测试实验室半导体器件焊接牢固性
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功率校验标准器(用于制造半导体器件设备化学气相沉淀机上,品牌BIRD ELECTRONIC,功能:校准射频发生器功率,有测试结果显示,显示功率)
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校准仪(专用于制造半导体器件设备缺陷检查设备,品牌APPLIED MATERIALS,用于半导体设备生产中的晶圆方向的预设及方向校正,无测试结果显示)
9031809090
高度测量计(用于制造半导体器件设备上,品牌AMAT,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台水平高度,有测试结果显示,显示高度值)
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J750混合信号测试数字测试部分通道板(电路板);被测器件的模拟信号做数模转换后输送到计算机上计算,用于测试半导体晶元(适用于J750测试机);泰瑞达
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间距测量仪(用于制造半导体器件设备上测量腔室内部的间隙的距离,品牌APPLIED MATERIALS,通过金属探头感应来测量,检测对象是间隙距离距离,无测试结果显示)
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水平检测仪(用于制造半导体器件设备上测量电子能量的大小,品牌APPLIED MATERIALS,通过内部的检测集成电路板来测量,检测对象是机台电子能量,无测试结果显示)
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弹簧测力器(用于半导体器件设备化学气相沉淀机内部上,品牌AKT,原理是作为测力器,用于测试载盘在机械手臂上的摩擦力,功能是用于测试磨擦力,有测试结果显示,显示N.M的单位的力)
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光电转换器(用于制造半导体器件设备电子束测试机台内部上,通过光电转换原理将电子信号收集后放大转换成图像信息,品牌:应用材料定制,型号:0241-58455,非简易二极管或者光电耦合器)
