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其他测量、检验仪器、器具及机器
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过期
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芯片测试系统（旧，不带工作站）

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其他无损探伤检测仪器(射线探伤仪除外)
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相孔阵成像检测系统;无损检测;超声波脉冲;OLYMPUS;检测结构中不连续性